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三箱冷热冲击测试箱

更新日期:2020-10-08

简要描述:

三箱冷热冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化。

品牌豪恩加工定制
分类冲击试验箱

三箱冷热冲击测试箱

简介

三箱冷热冲击测试箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在zuì短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。

用途

用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

 

主要技术参数

环境条件    环境温度为+5~+28℃、相对湿度≤85%、试验箱内无试样条件下(即空载时)

测试方法    GB/T 2423.1-2001、GB/T 2423.2-2001、GB/T 2423.22-2001、GJB 150.3-2001

规格型号    HE-LR-80S

内箱容量    80升

内箱尺寸    宽500×高400×深400(MM)

外形尺寸    宽1500×高1850×深1500(MM)

设备总重量约    600Kg

使用电源    AC 三相 五线 380V 50HZ

总功率约    23KW

隔层架  2个(承重20kg)

高低温区温度范围    1.高温区部分:RT(常温)~+180℃

2.低温区部分:RT(常温)~-65℃

温度测试范围    1.高温:+60℃~+150℃

2.低温:-10℃~-40℃

高低温转换时间  ≤10S

高低温恢复时间  3~5min(非线性空载下)

解析度  ±0.1℃

控制精度    ±0.5℃

温度偏差    ±2.0℃

预热区升温速度  ≤30分钟

预冷区降温速度  ≤80分钟

温度暴露时间    高温区,低温区各30分钟

 

标准依据

1、GB/T2423.1-2001低温试验方法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989温度变化试验N;

4. GJB150.3-86

5. GJB150.4-86

6. GJB150.5-86

7、GJB150.5-86温度冲击试验;

8、GJB360.7-87温度冲击试验;

9、GJB367.2-87 405温度冲击试验;

10、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式;

11、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式;

12、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;

10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;

11、GB/T 2423.22-2002温度变化;

12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则;

13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估。

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